Analyse des surfaces, interfaces et couches minces

Demande d'information

Objectifs Acquérir la connaissance des techniques en analyse des surfaces, interfaces et couches minces et de leurs applications les plus récentes.
Dirigé à Avoir le niveau bac+2 (DPCT du Cnam, BTS, DUT...) dans des disciplines scientifiques et techniques.
Contenu Introduction sur la nature et les propriétés physico-chimiques des surfaces, interfaces et couches minces

Principes de base notions sur l'appareillage et applications des thèmes suivants

ANALYSE EN COMPOSITION

- Spectrométrie de décharge luminescente (SDL)

- Spectroscopies électroniques (AUGER, XPS)

- Spectroscopie de masse d'ions secondaires (SIMS)

- Spectrométrie de rétrodiffusion de Rutherford (RBS)

ANALYSE STRUCTURALE ET MICROSTRUCTURALE

- Microscopie électronique à balayage (MEB) et microscopies à effet tunnel (STM) et à force atomique (AFM)

- Diffraction des électrons de faible énergie (LEED)

CARACTERISATION DIMENSIONNELLE

- Ellipsométrie

- Interférométrie

- Spectrométrie X

- Profilométrie

Mise en situation : Résolution d'un problème d'analyse à l'aide des différentes techniques étudiées.